CTU Events

Advanced dual beam scanning electron microscopy in materials research

11 Oct 2017   15:30

Tentokrát v rámci kolokvia vystoupí s přednáškou Ing. Václav Ocelík, Ph.D. (University of Groningen, absolvent Fakulty jaderné a fyzikálně inženýrské).

Fakultní kolokvium FJFI ČVUT je pravidelný cyklus přednášek, kde naši i zahraniční odborníci referují přístupnou formou o aktuálních výsledcích výzkumu. Je určeno pro široké publikum, zahrnující celou fakultní akademickou obec včetně studentů všech zaměření.

Půl hodiny před zahájením se bude před posluchárnou podávat občerstvení (káva, čaj, sušenky).

Abstrakt:
V tejto prednáške absolventa FJFI ČVUT (Katedra materiálů, 1982) budú predstavené niektoré moderné metódy a trendy rastrovacej elektrónovej mikroskopie pri štúdiu materiálov.
Dôraz bude kladený na detekciu a analýzu spätne odrazených difraktovaných elektrónov (Electron backscatter diffraction), využitie zväzku fokusovaných iónov (focused ion beam) a na analýzu snímkov získaných rastrovacou elektrónovou mikroskopiou za použitia algoritmov digitálnej korelácie obrazu.
Úspešné použitie týchto techník a ich kombinácií bude demonštrované na štúdiu viacerých moderných materiálov v aplikačnej i vývojovej oblasti. Budú diskutované výsledky v oblasti ovplyvňovania povrchov materiálov laserovým lúčom s vysokou intenzitou (high power laser surface engineering), vývoja nových typov zliatin s vysokou entropiou (high entropy alloys), merania vnútorných pnutí na mikrónových škálach, ako aj výsledky získané pri štúdiu stability zubných implantátov.

Place

Břehová 7, Praha 1, posluchárna č. 115

Organizer

FJFI ČVUT v Praze

Contact person

Mgr. Jaroslav Bielčík, Ph.D., jaroslav.bielcik@fjfi.cvut.cz

More information

https://kolokvium.fjfi.cvut.cz/