Akce ČVUT
| Dnes | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| « | březen 2016 | » | ||||
| Po | Út | St | Čt | Pá | So | Ne |
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | |
| 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 |
| 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 |
| 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 |
| 28 | 29 | 30 | 31 | |||
Yield & Robustness in Today?s Advanced Technology Nodes
18.03.2016 11:00
Chcete vědět, jak fungují moderní integrované obvody, kterými máte napěchován váš chytrý telefon, hodinky, navigaci, notebook a spousta dalších věcí, bez kterých si dnešní digitální svět ani nedokážete představit?
Nanometrové velikosti tranzistorů nám sice dovolují vyrábět stále složitější a výkonnější integrované obvody s miliardami tranzistorů, ale toto neustále zmenšování přináší velké problémy. Obvody jsou tak náchylnější k poruchám a mají mnohem větší rozptyl možných provozních podmínek. Testování integrovaných obvodů se tak stalo klíčovou výzkumně-vývojovou oblastí se spoustou chytrých inženýrských nápadů, bez které se návrh a výroba integrovaných obvodů neobejde.
Dr. Yervant Zoria, jeden z nejuznávanějších světových expertů v oblasti návrhu a testování integrovaných obvodů a jeden z nejvýznamnějších představitelů IEEE, vám prozradí, jak čipy s miliardami tranzistorů navrhovat, vyrábět a testovat se zaměřením na FinFET výrobu. V přednášce představí i některé převratné techniky, díky nimž lze takové čipy dokonce opravovat za běhu.
- Místo konání
- FIT ČVUT, Thákurova 9, T9:155
- Pořadatel
- FIT ČVUT
- Kontaktní osoba
- Veronika Dvořáková, veronika.dvorakova@fitcvut.cz
- Podrobnější informace
- http://fit.cvut.cz/fakulta/pravidelne_akce/prednaskovy-cyklus-prof-svobody/Zorian/prednaska